Chalmers infrastruktur för kemisk avbildning, CII, är en omfattande forskningsinfrastruktur med ett primärt fokus på högupplöst bildmasspektrometri. Infrastrukturen erbjuder ett brett utbud av verktyg för analytiska frågor inom materialvetenskap, geovetenskap och biovetenskap.
CII är en unik infrastruktur då att vi har verktyg och kompetens för både MALDI och statisk sekundärjonspektrometri (TOF-SIMS). Internationellt har vi en världsledande utrustningsbas bakom internationellt erkända experter inom utveckling och tillämpning av SIMS. CII tillhör institutionen för kemi och kemiteknik vid Chalmers.
För mer information besök vår engelskspråkiga hemsida genom att klicka på knappen "English".